测试电子元件的设备、系统和方法

专利权的终止

摘要

一种使用多个探针的电子元件测试设备。每个探针具有下电极和上电极。该设备包括：第一平板，其具有第一侧面和第二侧面，第一侧面具有设置在其附近的下电极区域的阵列，每个下电极区域被配置来接收探针的下电极；和多个信号导体区域，邻近下电极区域设置，每个信号导体区域配置成在下电极区域和开关电路之间提供非电缆电通路。开关电路可操作成顺序将每个电子元件通过上和下电极连接到测试电路。

基本信息

专利标题：

测试电子元件的设备、系统和方法

专利标题（英）：

暂无

公开（公告）号：

CN101223449A

申请号：

CN200680016962.X

公开（公告）日：

2008-07-16

申请日：

2006-03-24

授权号：

暂无

授权日：

暂无

发明人：

李光荣许金成林易立吴贤一

申请人：

威世通用半导体公司

申请人地址：

美国纽约

代理机构：

中原信达知识产权代理有限责任公司

代理人：

梁晓广

优先权：

CN200680016962.X

主分类号：

G01R31/02

IPC分类号：

G01R31/02 G01R31/00 G01R31/26