一种电子元件性能测试设备

授权

摘要

本实用新型公开了一种电子元件性能测试设备，包括底板、测试座、X向滑块、Y向滑块和压紧器，底板后侧依次通过Y向滑轨和X向滑轨连接到压紧器，测试座固定连接在Y向滑轨上端面前侧，底部从下到上固定连接有PCB板和限位板，限位板中部设置有放置电子元件的限位槽，PCB板通过电缆连接到性能监测设备。本实用新型将贴片式的电子元件放置到限位槽，采用压紧器压紧电子元件，启动测试性能监测设备，测量电子元件的各项参数，能够快速实现测量，省时省力，定位精确，电连接可靠，数据精确性高，提高测试可靠性，采用双向的滑轨，能够实现X向、Y向的快速移动，快速实现精确定位，提高测量精度，也便于实现不同测量器件的快速转换。

基本信息

专利标题：

一种电子元件性能测试设备

专利标题（英）：

暂无

公开（公告）号：

暂无

申请号：

CN202021731748.6

公开（公告）日：

暂无

申请日：

2020-08-19

授权号：

CN212514710U

授权日：

2021-02-09

发明人：

潘辉喻大鹏周健

申请人：

贵阳顺络迅达电子有限公司

申请人地址：

贵州省贵阳市白云区第二十六大道1656号顺络迅达工业园

代理机构：

贵阳中新专利商标事务所

代理人：

胡绪东

优先权：

CN202021731748.6

主分类号：

G01R1/04

IPC分类号：

G01R1/04 G01R31/00