一种电子元件测试用设备

专利权的终止

摘要

本实用新型公开了一种电子元件测试用设备，包括底座，所述底座的顶端边缘处固定有连接套筒，所述连接套筒的内侧插入有导柱，所述导柱的表面套设有调节块，所述调节块的内侧设置有调节板，所述调节块的内壁开设有与调节板相适配的弧形槽，所述调节板的内侧中点处固定有限位凸起，所述导柱的表面开设有与限位凸起相适配的边槽；通过设计的边槽和限位凸起，可以将调节板以及调节块的位置进行限位，从而保证后期调节的稳定性，避免在检测中，位置出现偏差的现象，保证加工的精度不受影响；通过设计的刮板，可以简单有效的将底座的表面进行清理，使用起来十分方便，相比较现有通过人工操作的方式工作效率更高。

基本信息

专利标题：

一种电子元件测试用设备

专利标题（英）：

暂无

公开（公告）号：

暂无

申请号：

CN201921670926.6

公开（公告）日：

暂无

申请日：

2019-10-08

授权号：

CN210268681U

授权日：

2020-04-07

发明人：

祝宇琳孟庆川呼大永李志刚树彬鲁子元

申请人：

黑龙江省网络空间研究中心

申请人地址：

黑龙江省哈尔滨市南岗区华山路12号

代理机构：

北京中济纬天专利代理有限公司

代理人：

谢建华

优先权：

CN201921670926.6

主分类号：

G01D5/26

IPC分类号：

G01D5/26 G01D11/16