本实用新型公开了一种电子元件测试装置，包括顶块和底座，顶块内设有万用表，所述底座固定于顶块下端，底座两侧内对立设有两组操作室，且底座内设有卡盒通道，卡盒通道内活动设有电子元件卡盒，所述操作室底部固定设有支撑架，所述支撑架内设有表笔，且两组操作室与卡盒通道之间均设有表笔通道，所述电子元件卡盒由多组电子元件卡块组成，所述电子元件卡块顶部设有与电子元件形状相匹配的凹槽。该电子元件测试装置通过在顶块上设置万用表，并设置表笔与万用表连接，设置电子元件卡盒用于放置多组电子元件，从而可将表笔从表弟通道内插入电子元件卡块内，通过表笔与万用表对电子元件进行测试，从而可实现依次对多组电子元件的电路通路检测工作。