一种电子元件测试装置
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摘要

本实用新型公开了一种电子元件测试装置,包括万用表本体,所述万用表本体的两侧皆固定安装有放置夹,所述放置夹的内部皆开设有卡球腔,所述卡球腔的内壁固定焊接有第一复位弹簧,所述第一复位弹簧的另一端固定连接有限位杆,所述限位杆的内部开设有限位卡球,所述限位卡球的内部插设有杆仓,所述万用表本体的内部开设有收纳腔,所述收纳腔的内部固定安装有滑轨。本实用新型通过固定块、第二复位弹簧、固定环、挤压杆和夹块组成固定结构,通过其固定结构可以将电子元件进行固定,避免电子元件在测试时发生偏移导致定位麻烦的问题,且通过其固定结构可以使表笔对电子元件测试时不会因为抖动发生万用表指针跳动的情况。

基本信息
专利标题 :
一种电子元件测试装置
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN202021431645.8
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2020-07-20
授权号 :
CN212845656U
授权日 :
2021-03-30
发明人 :
郑建兵
申请人 :
郑建兵
申请人地址 :
广东省珠海市金湾区红旗镇小林村正街队
代理机构 :
北京久维律师事务所
代理人 :
邢江峰
优先权 :
CN202021431645.8
主分类号 :
G01R31/00
IPC分类号 :
G01R31/00  G01R15/12  G01R1/04  
相关图片
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01R
测量电变量;测量磁变量
G01R31/00
电性能的测试装置;电故障的探测装置;以所进行的测试在其他位置未提供为特征的电测试装置;在制造过程中测试或测量半导体或固体器件入H01L21/66;线路传输系统的测试入H04B3/46)
法律状态
2021-03-30 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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