电子元件真空环境模拟测试装置
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摘要
本实用新型公开了一种电子元件真空环境模拟测试装置，包括：电气安装箱、用于放置待检测电子元件的密封腔体、用于对所述待检测电子元件进行检测的检测机构、用于调节所述密封腔体内压强的真空泵箱；其中，所述密封腔体和所述检测机构安装于所述电子安装箱上，所述密封腔体至少一面为玻璃门。相对于现有技术，本实用新型设备体积小，并通过集成减压和检测功能，提高了检测效率。
基本信息
专利标题 ：
电子元件真空环境模拟测试装置
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202021001113.0
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2020-06-03
授权号 ：
CN212905181U
授权日 ：
2021-04-06
发明人 ：
湛思邱鹏唐博识刘钦光林欢杰林树滨
申请人 ：
深圳市智立方自动化设备股份有限公司
申请人地址 ：
广东省深圳市宝安区石岩街道塘头社区厂房A栋1层至3层
代理机构 ：
深圳市科吉华烽知识产权事务所(普通合伙)
代理人 ：
胡吉科
优先权 ：
CN202021001113.0
主分类号 ：
G01R31/00
IPC分类号 ：
G01R31/00 G01R1/04 G01N21/84 G01N21/01
相关图片
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R31/00
电性能的测试装置；电故障的探测装置；以所进行的测试在其他位置未提供为特征的电测试装置；在制造过程中测试或测量半导体或固体器件入H01L21/66；线路传输系统的测试入H04B3/46）
法律状态
2021-04-06 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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1、
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