一种电子元件测试装置
授权
摘要

本实用新型适用于产品检测技术领域,提供了一种电子元件测试装置,包括:支架,包括基底部、相对设置于基底部上方的悬臂部、以及连接悬臂部和基底部的支撑部;固定夹具,设置于基底部上,用于对待测试的电子元件进行固定;测试仪器,用于对固定夹具上固定的待测试的电子元件进行测试,测试仪器通过导向结构滑动设置于悬臂部上;第一驱动组件,设置于支架上,用于驱动固定夹具相对测试仪器旋转;第二驱动组件,设置于支架上,用于驱动测试仪器相对固定夹具移动。本实用新型当中的测试装置,电子元件只需要固定一次就能够完成不用角度、不同位置的测试,提高测试效率,同时固定夹具也采用固定更为可靠的固定夹具,提高电子元件检测时的精度。

基本信息
专利标题 :
一种电子元件测试装置
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN202122704531.7
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2021-11-05
授权号 :
CN216310155U
授权日 :
2022-04-15
发明人 :
陈巧
申请人 :
深圳技术大学
申请人地址 :
广东省深圳市坪山区兰田路3002号
代理机构 :
深圳尚业知识产权代理事务所(普通合伙)
代理人 :
王利彬
优先权 :
CN202122704531.7
主分类号 :
G01R31/00
IPC分类号 :
G01R31/00  G01R1/04  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01R
测量电变量;测量磁变量
G01R31/00
电性能的测试装置;电故障的探测装置;以所进行的测试在其他位置未提供为特征的电测试装置;在制造过程中测试或测量半导体或固体器件入H01L21/66;线路传输系统的测试入H04B3/46)
法律状态
2022-04-15 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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