电子元件自动测试设备

授权

摘要

本实用新型公开一种电子元件自动测试设备，该电子元件自动测试设备包括机架、供料平台、上料平台、测试平台、下料平台、转运机械手和储料平台，上料平台与下料平台结构相同，上料平台包括第一过渡盘和第一摆臂机构，第一过渡盘转动设置在机架上，第一过渡盘上呈环状设置有多个可容纳单个电子元件的第一容纳腔；第一摆臂机构包括设置在机架上的第一安装座、设置在第一安装座上的第一皮带传动单元、与第一皮带传动单元的两输出轴分别连接的两个第一活动曲柄、分别与两个第一活动曲柄转动连接的第一连杆、位于第一连杆上的第一真空吸嘴以及设置在第一安装座上并位于第一活动曲柄移动轨迹上的第一限位柱。本实用新型有利于提高电子元件测试的效率。

基本信息

专利标题：

电子元件自动测试设备

专利标题（英）：

暂无

公开（公告）号：

暂无

申请号：

CN202021310151.4

公开（公告）日：

暂无

申请日：

2020-07-06

授权号：

CN212965233U

授权日：

2021-04-13

发明人：

覃志胜陈永寿

申请人：

深圳市易胜德机械设备有限公司

申请人地址：

广东省深圳市光明新区玉塘街道长圳社区长兴科技工业园46B栋3楼

代理机构：

深圳市华勤知识产权代理事务所(普通合伙)

代理人：

隆毅

优先权：

CN202021310151.4

主分类号：

G01R31/01

IPC分类号：

G01R31/01