电子元件自动测试设备

授权

摘要

本实用新型公开一种电子元件自动测试设备，该电子元件自动测试设备包括物料测试装置、自动上料装置、第一转运机械手、第二转运机械手和自动下料装置，自动上料装置包括上料输送机构和上料机械手，上料机械手包括上料治具和取料部件；物料测试装置包括容置电子元件的测试空间，测试空间内设有用于与电子元件电连接的测试探针；自动下料装置包括下料输送机构和下料机械手，下料机械手包括下料治具和送料部件；第一转运机械手用于将上料治具上的电子元件转移至测试空间内；第二转运机械手用于将测试空间内的电子元件转移至下料治具上。本实用新型有效的提高了电子元件的测试效率。

基本信息

专利标题：

电子元件自动测试设备

专利标题（英）：

暂无

公开（公告）号：

暂无

申请号：

CN201920889209.6

公开（公告）日：

暂无

申请日：

2019-06-13

授权号：

CN210270034U

授权日：

2020-04-07

发明人：

刘丹覃志胜陈永寿

申请人：

深圳市易胜德机械设备有限公司

申请人地址：

广东省深圳市光明新区玉塘街道长圳社区长兴科技工业园46B栋3楼

代理机构：

深圳市华勤知识产权代理事务所(普通合伙)

代理人：

隆毅

优先权：

CN201920889209.6

主分类号：

G01R31/01

IPC分类号：

G01R31/01