液晶灰度自动测试设备
实质审查的生效
摘要
本发明公开了一种液晶灰度自动测试设备,包括底座,底座上设有移动平台和升降平台,移动平台上方设有真空吸盘,升降平台上设有视觉对位系统和测试系统,视觉对位系统包括景深镜头,景深镜头与升降平台连接,测试系统包括水平移动机构和Z轴升降电机、激光测距感应器和测试探针,水平移动机构与升降平台连接,Z轴电机与水平移动机构连接,测试探针安装在Z轴升降电机径向外围,激光测距感应器安装在Z轴升降电机末端;本发明通过视觉对位系统完成识别后通过上位机软件算法运算将控制信号传至机械结构部分,其机械结构部分会通过控制信号完成相应的高精度移动,使测试探针移动至对应单元位置实现对各单元的测试。
基本信息
专利标题 :
液晶灰度自动测试设备
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN114544150A
申请号 :
CN202210159252.3
公开(公告)日 :
2022-05-27
申请日 :
2022-02-21
授权号 :
暂无
授权日 :
暂无
发明人 :
修威田海燕杨光杜凯斌
申请人 :
北京华镁钛科技有限公司
申请人地址 :
北京市海淀区永丰产业基地永捷北路3号标准厂房北5层501-24房间
代理机构 :
北京知呱呱知识产权代理有限公司
代理人 :
胡乐
优先权 :
CN202210159252.3
主分类号 :
G01M11/02
IPC分类号 :
G01M11/02 G01M11/04
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01M
机器或结构部件的静或动平衡的测试;其他类目中不包括的结构部件或设备的测试
G01M11/02
•光学性质测试
法律状态
2022-06-14 :
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01M 11/02
申请日 : 20220221
申请日 : 20220221
2022-05-27 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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