本发明公开了一种液晶移相器移相灰度曲线测试装置及方法，包括耦合探测结构和液晶盒，耦合探测结构包括接地探针引脚、耦合探测接地片、信号探针引脚和耦合探测辐射片，耦合探测辐射片设置在耦合探测接地片中间，接地探针引脚与耦合探测接地片连接，信号探针引脚与耦合探测辐射片连接，液晶盒设有耦合缝隙和对位标识；本发明采用可移动式耦合探测结构，实现所有或大部分液晶移相器频率响应及移相灰度测试，通过对比分析及计算，筛选出两个或以上频率的移相灰度测试结果，并计算出工作频带内任意频点的移相灰度测试结果，实现了液晶移相器高效产业化测试及计算。