一种电子元件测试装置
公开
摘要
本发明涉及换能器技术领域，具体涉及一种电子元件测试装置，它包括底座，底座上方设有工作板，工作板表面设有固定连接的支撑架，支撑架上设有固定连接的测试支撑板，测试支撑板下方设有测试组件，测试组件包括位于测试支撑板底部的安装板，位于安装板表面的电动伸缩杆，位于电动伸缩杆底部的检测探头，检测探头上方设有电连接的控制器，工作板表面设有与控制器电连接的放大显示屏。
基本信息
专利标题 ：
一种电子元件测试装置
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN114295628A
申请号 ：
CN202210052304.7
公开（公告）日 ：
2022-04-08
申请日 ：
2022-01-18
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
高强
申请人 ：
无锡市宇超电子有限公司
申请人地址 ：
江苏省无锡市蠡园开发区滴翠路100号11号标准厂房第二层
代理机构 ：
无锡万里知识产权代理事务所(特殊普通合伙)
代理人 ：
岳培华
优先权 ：
CN202210052304.7
主分类号 ：
G01N21/88
IPC分类号 ：
G01N21/88
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N21/00
利用光学手段，即利用亚毫米波、红外光、可见光或紫外光来测试或分析材料
G01N21/84
专用于特殊应用的系统
G01N21/88
测试瑕疵、缺陷或污点的存在
法律状态
2022-04-08 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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