一种电子元件移动测试装置
授权
摘要
本实用新型提供了一种电子元件移动测试装置,包括测试盘、正极板、测试筒和负极板,测试盘的顶部嵌入有若干个测试筒,测试盘的侧面嵌入有两根导电杆,导电杆的一端分别固定有正极板和负极板,导电杆的另一端套接有螺纹筒,螺纹筒的中间螺纹嵌入有螺纹顶杆;测试筒的内壁固定有绝缘板,测试筒的内壁和绝缘板之间固定有两个固定套,固定套的内侧设置有海绵块。本实用新型中的测试筒和原料的正负极套接,多个测试筒可以固定多个原料,使原料同步进行发光,可以进行对比,便于原料的发光亮度的观测工作,测试非常便捷;测试筒内部的水银直接与原料的正负极接触,实现液体和固定接触,无需进行夹持,原料的接线非常稳定且且省时省力。
基本信息
专利标题 :
一种电子元件移动测试装置
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN202122599956.6
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2021-10-28
授权号 :
CN216622577U
授权日 :
2022-05-27
发明人 :
章欢乐
申请人 :
江西工程学院
申请人地址 :
江西省新余市仙来西大道859号
代理机构 :
南昌逸辰知识产权代理事务所(普通合伙)
代理人 :
刘晓敏
优先权 :
CN202122599956.6
主分类号 :
G01R31/26
IPC分类号 :
G01R31/26 G01M11/02
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01R
测量电变量;测量磁变量
G01R31/26
•单个半导体器件的测试
法律状态
2022-05-27 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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