本实用新型涉及电子元件技术领域，且公开了一种电子元件移动测试装置，包括支撑板、移动机构和测试机构，通过移动机构和测试机构的设置，在需要进行大量的样本测试时，只需要增加测试机构的数量，然后通过移动机构带动测试机构往复地上下活动进行测试和且不断调换电子元件，这样电子元件从一端移动至另一端时，会接收大量测试机构的测试，且不需要对测试机构进行拆卸或安装即可实现大量测试，提高工作效率，通过测试机构的设置，测试机构上的测试杆能够通过螺杆转动调节高度，从而来调整测试杆接触电子元件时，电子元件所接受的来着测试机构重量的压力，从而能够测试部分电子元件的拼装和强度是否合格。