本实用新型涉及电子元件检测领域，其具体公开一种电子元件测试用连接装置，适用于电性连接具有多连接端子的电子元件和测试机，它包括：第一端，该第一端具有：第一面板，其具有若干第一电极点；第一接插件，其具有用于与被测电子元件电连接的引脚，该引脚数量大于100，且该第一接插件与第一电极点电连接；第二端，该第二端具有：第二面板，其具有若干第二电极点；第二接插件，其具有用于插入测试机以传输电信号的输出端口，且该第二接插件与第二电极点电连接；连接件，其为探针或导电胶；且该连接件电连接在第二电极点上并在第一端接入时与第一电极点电连接以形成被测电子元件至测试机的测试通路。以使电子元件在不同测试机上测试时，或者不同电子元件更换到测试机测试时，无需重复插拔排线与连接器，增加测试效率，减小连接器的损坏率。