一种电子元件导通测试装置
授权
摘要
本实用新型属于电子元件检测技术领域，尤其涉及一种电子元件导通测试装置，包括定位块、探针组件、探针固定板、驱动组件和测试设备；定位块，用于固定电子元件；探针组件设置于所述定位块上方，用于连接所述电子元件的两端；所述探针组件安装于所述探针固定板；所述探针固定板与所述驱动组件的输出端连接；所述探针组件与所述测试设备导电连接。本实用新型既提高了测试效率，又避免漏检。
基本信息
专利标题 ：
一种电子元件导通测试装置
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202021959243.5
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2020-09-09
授权号 ：
CN213398880U
授权日 ：
2021-06-08
发明人 ：
高连忠龚卫万志勇
申请人 ：
东莞市贝特电子科技股份有限公司
申请人地址 ：
广东省东莞市松山湖高新技术产业开发区新竹路4号新竹苑16座办公601
代理机构 ：
天津市北洋有限责任专利代理事务所
代理人 ：
潘俊达
优先权 ：
CN202021959243.5
主分类号 ：
G01R31/54
IPC分类号 ：
G01R31/54 G01R1/04
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R31/54
测试连续性
法律状态
2021-06-08 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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