测试转接机构

授权

摘要

本方案涉及器件电测技术领域，具体而言，涉及一种测试转接机构。测试转接机构适于电性连接至一待测器件与一测试板之间，其包括壳体和转接板，壳体上开设有母口，转接板的一端伸出壳体，转接板的另一端位于所述母口内，所述转接板的两端均设置有金手指，所述转接板伸出所述壳体的一端用于与测试板插接，所述转接板的位于所述母口内的一端用于连接所述待测器件。上述技术方案提供的测试转接机构设置在待测器件与测试板之间，无须将待测器件频繁的在测试板上进行插拔操作，大大降低了对于测试板的磨损，当本实用新型的测试转接机构由于频繁插拔损坏时，可以仅更换成本较低的测试转接机构即可，而毋须丢弃测试板，因此可有效降低测试耗材的成本。

基本信息

专利标题：

测试转接机构

专利标题（英）：

暂无

公开（公告）号：

暂无

申请号：

CN201921100283.1

公开（公告）日：

暂无

申请日：

2019-07-12

授权号：

CN210199739U

授权日：

2020-03-27

发明人：

陈方均徐虎许明生

申请人：

芯思杰技术（深圳）股份有限公司

申请人地址：

广东省深圳市南山区学苑大道1001号南山智园A5栋4楼

代理机构：

深圳智汇远见知识产权代理有限公司

代理人：

田俊峰

优先权：

CN201921100283.1

主分类号：

G06F11/22

IPC分类号：

G06F11/22 H01R31/06 H01R13/46 G01R31/00