本实用新型提供了一种大功率激光器裸芯片测试夹具，包括芯片、底座、转台、第一调整架、第二调整架、耦合透镜和电源，转台、第一调整架、第二调整架和电源均设置在底座上；转台与底座转动连接，转台近边缘处设置有若干阻挡部，芯片放置在转台的上表面，芯片的负极与转台的上表面接触，且芯片的侧面与阻挡部的侧面相抵持；第一调整架远离底座的一端与芯片的正极相抵持；第二调整架远离底座的一端设置有耦合透镜，耦合透镜对准芯片的出光部；转台和第一调整架均与电源电性连接。本实用新型通过转台上的阻挡部来限定激光器芯片的位置，防止芯片掉落，并使其发出的光能够穿过阻挡部的开口到达耦合透镜，便于后续检测步骤。