本实用新型涉及一种芯片测试夹具，包括基座和用于托住待测芯片的绝缘托条；对待测芯片进行测试时，先将待测芯片放置在绝缘托条上，而后通过驱动装置驱动第一绝缘条和第二绝缘条近离待测芯片，使导电片与待测芯片的引脚接触，尽而通过外部的测试电路对待测芯片进行测试；并且还可以放置多个待测芯片在绝缘托条上，测试完毕后控制驱动装置驱动第一绝缘条和第二绝缘条远离芯片，而后还可以直接推动最边端的芯片，使绝缘托条上的芯片全部滑走，以提高工作效率；第一垫高条和第二垫高条用于将绝缘托条垫高，以给驱动装置安装的空间，同时还缩小了产品的体积；实现结构简单，成本低，体积小，使用方便，工作效率高。