一种芯片测试机的测试夹具及设备
授权
摘要

本实用新型公开了一种芯片测试机的测试夹具及设备,测试夹具包括定夹具和用于夹紧芯片的推料板,所述的定夹具上开设有推料口的夹槽,推料板嵌设推料口内,所述的推料板包括推杆和固定设置在推杆上用于推动芯片的推头,所述的推杆在气缸的作用下推动推头沿芯片的对角线运动,推头与夹槽壁共同作用将芯片固定在夹槽内。该测试夹具的定夹具上开设有一角开口的夹槽,推料板在气缸的作用下与定夹具共同夹紧或者松开芯片,定夹具实现定位,夹具能够实现自动夹紧芯片,可以用于自动化生产线。

基本信息
专利标题 :
一种芯片测试机的测试夹具及设备
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN201921283396.X
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2019-08-08
授权号 :
CN211235927U
授权日 :
2020-08-11
发明人 :
余代春刘军王强
申请人 :
绵阳宁瑞电子有限公司
申请人地址 :
四川省绵阳市梓潼县经济开发区成都路
代理机构 :
成都睿道专利代理事务所(普通合伙)
代理人 :
薛波
优先权 :
CN201921283396.X
主分类号 :
G01R1/04
IPC分类号 :
G01R1/04  G01R31/28  
相关图片
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01R
测量电变量;测量磁变量
G01R1/00
包括在G01R5/00至G01R13/00或G01R31/00组中的各类仪器或装置的零部件
G01R1/02
一般结构零部件
G01R1/04
外壳;支承构件;端子装置
法律状态
2020-08-11 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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1、
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