一种存储芯片测试夹具
授权
摘要

本实用新型公开了一种存储芯片测试夹具,属于存储芯片技术领域,其包括底板,所述底板的上表面固定连接有推动装置,所述推动装置的上表面与PCB电路板的下表面搭接,所述底板的上表面固定连接有步进电机,所述步进电机的输出轴固定连接有支撑板。该存储芯片测试夹具,通过步进电机、电动推杆、压板、滑杆和第一弹簧之间的相互配合,从而使得本装置可以对储存器固定工作更加简捷方便,使其过程比较省时省力,而且本装置在固定的同时可以对引脚进行拉伸,提高引脚的水平度,使其可以更好的保证对储存器的测试工作,同时储存器在测试时工作人员可以继续进行另一储存器定位工作,进一步节省了大量时间,从而给工作人员的工作带来了方便。

基本信息
专利标题 :
一种存储芯片测试夹具
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN202020118527.5
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2020-01-19
授权号 :
CN212060331U
授权日 :
2020-12-01
发明人 :
丛维金生
申请人 :
上海优村科技有限公司
申请人地址 :
上海市浦东新区中国(上海)自由贸易试验区盛夏路570号1001B室
代理机构 :
代理人 :
优先权 :
CN202020118527.5
主分类号 :
G01R1/04
IPC分类号 :
G01R1/04  G01R31/28  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01R
测量电变量;测量磁变量
G01R1/00
包括在G01R5/00至G01R13/00或G01R31/00组中的各类仪器或装置的零部件
G01R1/02
一般结构零部件
G01R1/04
外壳;支承构件;端子装置
法律状态
2020-12-01 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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