一种存储芯片简易测试装置
授权
摘要
本实用新型公开了一种存储芯片简易测试装置，属于存储芯片技术领域，其包括壳体，所述壳体内壁的下表面固定连接有电动推杆，所述电动推杆的顶端固定连接有底座，所述底座的左右两侧面均固定连接有第一滑块，所述第一滑块滑动连接在第一滑槽内。该存储芯片简易测试装置，通过设置夹板，伸缩杆、弹簧和主机，工作人员控制电动推杆工作，使得电动推杆带动底座向下运动，使得底座通过主机和接口带动存储芯片向下运动，使得存储芯片从通孔内移出，工作人员向右拉动夹板，使得伸缩杆和弹簧收缩，工作人员向上拉动主机，使得主机带动定位块从定位槽内移出，操作简单，使得工作人员可以较为轻松的对检测设备进行拆卸并维护。
基本信息
专利标题 ：
一种存储芯片简易测试装置
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202020118485.5
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2020-01-19
授权号 ：
CN211016549U
授权日 ：
2020-07-14
发明人 ：
丛维金生
申请人 ：
上海优村科技有限公司
申请人地址 ：
上海市浦东新区中国（上海）自由贸易试验区盛夏路570号1001B室
代理机构 ：
代理人 ：
优先权 ：
CN202020118485.5
主分类号 ：
G11C29/56
IPC分类号 ：
G11C29/56
IPC结构图谱
G
G部——物理
G11
信息存储
G11C
静态存储器
G11C29/48
专门适用于从外部到存储器的静态存储中的测试装置，例如：用直接存储器存取或者用辅助访问路径
G11C29/56
用于静态存储器的外部测试装置，例如，自动测试设备；所用接口
法律状态
2020-07-14 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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