一种基于FPGA的存储芯片测试电路
授权
摘要
本实用新型提出一种基于FPGA的存储芯片测试电路，包括第一电路板和第二电路板，第一电路板和第二电路板相互连接，第一电路板上设有现场可编程阵列模块、存储模块、烧录模块、数据传输模块、内部逻辑分析模块、第一复位按钮和第一接口，现场可编程阵列模块分别与存储模块、烧录模块、数据传输模块、内部逻辑分析模块、第一复位按钮和第一接口连接，内部逻辑分析模块与数据传输模块连接，第二电路板上设有第二接口和存储插座电路，存储插座电路与第二接口连接，第一接口与第二接口连接；此基于FPGA的存储芯片测试电路解决了用户在资料传送时的速率受到限制的问题，同时第二电源模块让第二电路板不容易受到外部电源断电时带来的影响。
基本信息
专利标题 ：
一种基于FPGA的存储芯片测试电路
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202021498440.1
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2020-07-24
授权号 ：
CN212846772U
授权日 ：
2021-03-30
发明人 ：
李斌
申请人 ：
深圳市宏旺微电子有限公司
申请人地址 ：
广东省深圳市南山区沙河街道华侨城创意文化园开平街2号G2栋2楼
代理机构 ：
深圳市诺正鑫泽知识产权代理有限公司
代理人 ：
林国友
优先权 ：
CN202021498440.1
主分类号 ：
G06F11/22
IPC分类号 ：
G06F11/22 G11C29/56
IPC结构图谱
G
G部——物理
G06
计算；推算或计数
G06F
电数字数据处理
G06F11/00
错误检测；错误校正；监控
G06F11/22
在准备运算或者在空闲时间期间内，通过测试作故障硬件的检测或定位
法律状态
2021-03-30 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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