测试电路板架构

专利权的终止

摘要

本实用新型揭露一种测试电路板架构，使用于包括有一测试机以及一支持器的测试系统中，测试电路板架构用以传递测试机所产生的多个测试信号，以对置放于支持器上的至少二待测试元件进行测试。其包括有一转接板、一乘载板以及至少二连接接口。转接板耦接于支持器，设置有至少二连接插槽，分别耦接于至少二待测试元件。乘载板耦接至测试机，设置有至少二接合插槽，至少二接合插槽对应于至少二连接插槽而设置。至少二连接接口耦接于至少二连接插槽以及至少二接合插槽之间，用以传递多个测试信号以对至少二待测试元件进行测试。本实用新型可提升芯片测试的便利性以及芯片测试的准确性。

基本信息

专利标题：

测试电路板架构

专利标题（英）：

暂无

公开（公告）号：

暂无

申请号：

CN200720310124.5

公开（公告）日：

暂无

申请日：

2007-12-04

授权号：

CN201122174Y

授权日：

2008-09-24

发明人：

滕贞勇甘少天陈昱升

申请人：

普诚科技股份有限公司

申请人地址：

中国台湾台北县

代理机构：

北京林达刘知识产权代理事务所

代理人：

刘新宇

优先权：

CN200720310124.5

主分类号：

G01R31/28

IPC分类号：

G01R31/28