电路板测试装置及辅助测试电路板

授权

摘要

本实用新型公开了一种电路板测试装置，包括：测试台、辅助测试电路板和弹簧探针，辅助测试电路板设置在测试台和弹簧探针之间，辅助测试电路板包括辅助测试基板和测试接点，测试接点为中空的孔；辅助测试基板包括顶层基板、底层基板和至少一层中间层基板，测试接点设置在顶层基板和底层基板上，顶层基板上的测试接点和底层基板上的测试接点在中间层基板上的投影重合，中间层基板在重合区域不导通。本实用新型通过在辅助测试电路板上设置盲孔结构降低了短路风险，提高了测试效率。

基本信息

专利标题：

电路板测试装置及辅助测试电路板

专利标题（英）：

暂无

公开（公告）号：

暂无

申请号：

CN201922497681.8

公开（公告）日：

暂无

申请日：

2019-12-31

授权号：

CN211905584U

授权日：

2020-11-10

发明人：

鞠文凯张建军

申请人：

晶测电子科技（上海）有限公司

申请人地址：

上海市浦东新区盛夏路169号、张东路1658号1幢9层905室

代理机构：

北京品源专利代理有限公司

代理人：

孟金喆

优先权：

CN201922497681.8

主分类号：

G01R31/28

IPC分类号：

G01R31/28