电路板测试装置
专利权人的姓名或者名称、地址的变更
摘要
本实用新型公开一种电路板测试装置,用于高频输出电路板的测试,所述电路板测试装置包括:底盒,形成有容纳腔,所述容纳腔内设有隔板,所述隔板将所述容纳腔分隔为第一腔室和第二腔室;信号处理模块,包括信号输入模块和信号输出模块,所述信号输入模块设于所述的第一腔室内,所述信号输出模块设于所述第二腔室内;及接头组件,设于所述底盒,并与所述信号输入模块和所述信号输出模块电连接,所述接头组件用于连接和测试待测电路板。本实用新型提出的电路板测试装置能够提升高频类电路板的测试效率。
基本信息
专利标题 :
电路板测试装置
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN202020831016.8
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2020-05-18
授权号 :
CN212569032U
授权日 :
2021-02-19
发明人 :
林剑斌黄维谭荣鹏贺建亮
申请人 :
深圳市东微智能科技股份有限公司
申请人地址 :
广东省深圳市南山区西丽街道高新科技产业园北区朗山路16号华瀚创新园D座401室
代理机构 :
深圳市港湾知识产权代理有限公司
代理人 :
微嘉
优先权 :
CN202020831016.8
主分类号 :
G01R31/28
IPC分类号 :
G01R31/28 G01R1/04
相关图片
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01R
测量电变量;测量磁变量
G01R31/28
•电路的测试,例如用信号故障寻测器
法律状态
2021-06-04 :
专利权人的姓名或者名称、地址的变更
IPC(主分类) : G01R 31/28
变更事项 : 专利权人
变更前 : 深圳市东微智能科技股份有限公司
变更后 : 深圳市东微智能科技股份有限公司
变更事项 : 地址
变更前 : 518000 广东省深圳市南山区西丽街道高新科技产业园北区朗山路16号华瀚创新园D座401室
变更后 : 518000 广东省深圳市南山区西丽街道西丽社区兴科一街万科云城一期七栋A座1601研发用房(国际创新谷1栋A座16层)
变更事项 : 专利权人
变更前 : 深圳市东微智能科技股份有限公司
变更后 : 深圳市东微智能科技股份有限公司
变更事项 : 地址
变更前 : 518000 广东省深圳市南山区西丽街道高新科技产业园北区朗山路16号华瀚创新园D座401室
变更后 : 518000 广东省深圳市南山区西丽街道西丽社区兴科一街万科云城一期七栋A座1601研发用房(国际创新谷1栋A座16层)
2021-02-19 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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1、
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