电路板性能测试辅助装置
专利权的终止
摘要

本实用新型公开了一种电路板性能测试辅助装置,包括固定架和测试架,测试架包括底座,底座上设置有若干线路板支撑柱和与电路板测试连接点对应的探针,探针连接有用以和测试装置连接的数据线接口,测试架中部设有探针固定板。所述固定架包括底座、操作杆、连杆以及前端设有压块的L型压杆,L形压杆的底端及连杆一端活络转接在底座上,操作杆的中前部与连杆另一端活络转接,操作杆的前端则活络转接在L型压杆的转角上。本实用新型结构简单,操作简便,可快速将探针与被测电路板测试连接点连接,并保证在测试过程中探针和测试点接触良好。

基本信息
专利标题 :
电路板性能测试辅助装置
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN200620102519.1
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2006-04-10
授权号 :
CN2888452Y
授权日 :
2007-04-11
发明人 :
魏洪臣武世转
申请人 :
许晓华
申请人地址 :
322100浙江省东阳市人民路96号联宜电机有限公司
代理机构 :
杭州华鼎专利事务所
代理人 :
竺诗忍
优先权 :
CN200620102519.1
主分类号 :
G01R1/073
IPC分类号 :
G01R1/073  G01R1/00  G01R31/28  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01R
测量电变量;测量磁变量
G01R1/00
包括在G01R5/00至G01R13/00或G01R31/00组中的各类仪器或装置的零部件
G01R1/02
一般结构零部件
G01R1/06
测量引线;测量探针
G01R1/067
测量探针
G01R1/073
多个探针
法律状态
2011-06-15 :
专利权的终止
未缴年费专利权终止号牌文件类型代码 : 1605
号牌文件序号 : 101079132440
IPC(主分类) : G01R 1/073
专利号 : ZL2006201025191
申请日 : 20060410
授权公告日 : 20070411
终止日期 : 20100410
2007-04-11 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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