电路板测试装置
授权
摘要

本实用新型公开了一种电路板测试装置,该电路板测试装置包括机架;测试治具,所述测试治具包括测试针床和弹簧针床,所述测试针床包括第一针床板和多个测试针,所述第一针床板设于所述机架,多个所述测试针穿设于所述测试针床;所述弹簧针床包括第二针床板和多个弹簧针,所述第二针床设于所述机架,所述第二针床间隔设有多个针体安置区,并于每一个所述针体安置区内穿设有多个所述弹簧针,一个所述弹簧针的一端和一个所述测试针的一端电性连接;以及多个开关卡,多个开关卡均设于所述机架,一个所述开关卡和一个所述弹簧针远离所述测试针的一端电性连接。本实用新型技术方案能够提高该电路板测试装置使用的便利性。

基本信息
专利标题 :
电路板测试装置
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN202021952064.9
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2020-09-08
授权号 :
CN213302435U
授权日 :
2021-05-28
发明人 :
肖红征
申请人 :
深圳市旺通达电子有限公司
申请人地址 :
广东省深圳市宝安区航城街道九围社区一路23号天润智能创新工业园厂房B栋第四层401
代理机构 :
深圳市恒程创新知识产权代理有限公司
代理人 :
刘冰
优先权 :
CN202021952064.9
主分类号 :
G01R31/28
IPC分类号 :
G01R31/28  G01R1/04  G01R1/073  
相关图片
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01R
测量电变量;测量磁变量
G01R31/28
•电路的测试,例如用信号故障寻测器
法律状态
2021-05-28 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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1、
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