测试电路及采用该测试电路的存储芯片

授权

摘要

本实用新型提供一种测试电路及存储芯片，所述测试电路用于存储器的压缩数据读取，所述测试电路包括M个存储块，所述M为大于或等于2的偶数，其中N个存储块组成一个存储组，所述N为大于或等于2且小于或等于M的偶数，所述M是所述N的整数倍，其特征在于，所述测试电路还包括：压缩数据读取单元，一个所述压缩数据读取单元对应一个所述存储组，所述压缩数据读取单元与对应的所述存储组中的所述N个存储块连接，所述压缩数据读取单元接收压缩数据读取命令和地址信息，并根据所述压缩数据读取命令和所述地址信息读取所述N个存储块中的数据。本实用新型的优点在于，能够既不额外增加存储芯片的尺寸又能大幅度减少测试时间。

基本信息

专利标题：

测试电路及采用该测试电路的存储芯片

专利标题（英）：

暂无

公开（公告）号：

暂无

申请号：

CN201921731774.6

公开（公告）日：

暂无

申请日：

2019-10-16

授权号：

CN210271794U

授权日：

2020-04-07

发明人：

王佳张良李红文

申请人：

长鑫存储技术有限公司

申请人地址：

安徽省合肥市蜀山区经济技术开发区翠微路6号海恒大厦630室

代理机构：

上海盈盛知识产权代理事务所(普通合伙)

代理人：

孙佳胤

优先权：

CN201921731774.6

主分类号：

G11C29/40

IPC分类号：

G11C29/40 G11C29/12