一种存储芯片高温测试系统
授权
摘要
本实用新型公开了一种存储芯片高温测试系统,包含恒温箱、测试组件与测试主机，所述测试组件包含测试主板与存储芯片连接板，所述测试主板与所述的存储芯片连接板电性连接并进行数据通信，所述恒温箱包含第一数据接口与第二数据接口，所述第一数据接口设置在所述的恒温箱外部，所述第二数据接口设置在所述的恒温箱内部，所述第一数据接口与第二数据接口电性连接，本实用新型的改进之处在于恒温箱上固定设置有两个数据接口，两个数据接口通过嵌入恒温箱中的电路进行连接，所述存储芯片连接板与测试主板通过两个数据接口连接并进行数据通信，本技术方案中的测试数据通信稳定而且不会收到干扰，本技术方案操作方便、测试环境整洁，使用寿命长。
基本信息
专利标题 ：
一种存储芯片高温测试系统
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202122941192.4
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2021-11-29
授权号 ：
CN216623772U
授权日 ：
2022-05-27
发明人 ：
张志强杨密凯李斌凡涛冯修圣
申请人 ：
深圳市宏旺微电子有限公司
申请人地址 ：
广东省深圳市南山区沙河街道华侨城创意文化园开平街2号G2栋2楼
代理机构 ：
代理人 ：
优先权 ：
CN202122941192.4
主分类号 ：
G11C29/56
IPC分类号 ：
G11C29/56
IPC结构图谱
G
G部——物理
G11
信息存储
G11C
静态存储器
G11C29/48
专门适用于从外部到存储器的静态存储中的测试装置，例如：用直接存储器存取或者用辅助访问路径
G11C29/56
用于静态存储器的外部测试装置，例如，自动测试设备；所用接口
法律状态
2022-05-27 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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