一种多数量存储芯片的测试设备
授权
摘要
本实用新型提供了芯片多数量同时在线测试的设备，本实用新型由几种相同的模块组成，分为前后两部分，前半部分是测试部分，该部分采用托盘与导向板结合的设计方式，测试基板直接固定在托盘上，托盘通过导向板的滑槽前后滑动，方便取放；每对导向板都有多组滑道，多组滑道可放置多层托盘，减少了测试的空间的占用，增加了测试的数量；后半部分为测试电脑部分，该部分也采用托盘式设计，方便对测试电脑的维护；一个测试电脑对应前面多个托盘的测试，测试电脑与托盘通过排线或转接板连接；为减少芯片在测试过程中芯片发热对测试的影响，设备安装有多组散热风扇。
基本信息
专利标题 ：
一种多数量存储芯片的测试设备
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN201921359709.5
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2019-08-21
授权号 ：
CN211125040U
授权日 ：
2020-07-28
发明人 ：
许斌
申请人 ：
上海优异达机电有限公司
申请人地址 ：
上海市松江区洞泾镇洞厍路601号4栋2楼
代理机构 ：
代理人 ：
优先权 ：
CN201921359709.5
主分类号 ：
G11C29/56
IPC分类号 ：
G11C29/56 G11B33/14
IPC结构图谱
G
G部——物理
G11
信息存储
G11C
静态存储器
G11C29/48
专门适用于从外部到存储器的静态存储中的测试装置，例如：用直接存储器存取或者用辅助访问路径
G11C29/56
用于静态存储器的外部测试装置，例如，自动测试设备；所用接口
法律状态
2020-07-28 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
文件下载
暂无PDF文件可下载
