一种封装芯片测试夹具
授权
摘要

本实用新型公开了一种封装芯片测试夹具,包括:底板,所述底板的中侧设有芯片放置槽,所述芯片槽内设有传感器固定块,所述传感器固定块中侧设有传感器安装槽,所述底板的周侧设有螺钉固定孔,所述芯片放置槽内设有铟片,所述传感器固定块上侧的芯片放置槽内安装有铟片,所述铟片上侧的芯片放置槽内安装有芯片卡爪。本实用新型一种封装芯片测试夹具的优点是:结构紧凑,安装稳固,底板中侧设有芯片卡爪,用于固定、支撑芯片,中间加入了铟片,铟片具有延展性好,熔点低,低电阻,抗腐蚀等优良特性,对芯片有很好的保护作用。

基本信息
专利标题 :
一种封装芯片测试夹具
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN201921247060.8
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2019-08-04
授权号 :
CN210690638U
授权日 :
2020-06-05
发明人 :
吴明涛王战朋刘振
申请人 :
苏州易锝玛精密机械有限公司
申请人地址 :
江苏省苏州市工业园区唯新路59号
代理机构 :
代理人 :
优先权 :
CN201921247060.8
主分类号 :
G01R1/04
IPC分类号 :
G01R1/04  G01R31/28  
相关图片
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01R
测量电变量;测量磁变量
G01R1/00
包括在G01R5/00至G01R13/00或G01R31/00组中的各类仪器或装置的零部件
G01R1/02
一般结构零部件
G01R1/04
外壳;支承构件;端子装置
法律状态
2020-06-05 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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