本实用新型提供一种针对CLGA封装芯片的测试夹具，将夹具中传统的单一尺寸导向框改进为包括最大外形导向框和可拆装导向块的导向框组件，最大外形导向框中设有大于等于待测芯片最大外形尺寸上限的内腔，可拆装导向块安装于最大外形导向框，调整内腔的尺寸与待测芯片最大外形尺寸相匹配，实现待测芯片在所述内腔中的定位，进而利用导向框组件，测试座，探针和手测盖之间的配合，实现对待测芯片的测试。本实用新型解决了陶瓷平面网格阵列封装器件公差较大、器件在测试夹具内定位不精准的问题，可以快速组装不同定位腔尺寸的导向框，不需要通过新制或者返修原有导向框的方法来兼容陶瓷封装器件的最大外形公差，节约了重新制作导向框的成本。