芯片测试夹具及积分球测试系统
授权
摘要
本实用新型公开了一种芯片测试夹具及积分球测试系统，其中，芯片测试夹具包括基座及弹性压合件；基座设有供芯片放置的放置位；弹性压合件在第一状态和第二状态之间可切换地设于基座上；弹性压合件处于第一状态时，弹性压合件将置于放置位上的芯片压紧定位于基座上；弹性压合件处于第二状态时，弹性压合件释放对置于放置位上的芯片的压紧定位；弹性压合件具有在弹性压合件处于第一状态时与芯片的信号端抵接的信号连接部，弹性压合件还用于给芯片传输电信号。本实用新型提供一种芯片测试夹具，用于对LED芯片进行固定以进行积分球测试，同时也降低了积分球测试的成本。
基本信息
专利标题 ：
芯片测试夹具及积分球测试系统
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202022034903.5
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2020-09-16
授权号 ：
CN213423246U
授权日 ：
2021-06-11
发明人 ：
张智聪李光辉郭政伟
申请人 ：
中国科学院苏州纳米技术与纳米仿生研究所广东（佛山）研究院
申请人地址 ：
广东省佛山市南海区狮山镇科教路1号
代理机构 ：
深圳市恒程创新知识产权代理有限公司
代理人 ：
刘冰
优先权 ：
CN202022034903.5
主分类号 ：
G01R1/04
IPC分类号 ：
G01R1/04 G01R31/28
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R1/00
包括在G01R5/00至G01R13/00或G01R31/00组中的各类仪器或装置的零部件
G01R1/02
一般结构零部件
G01R1/04
外壳；支承构件；端子装置
法律状态
2021-06-11 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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