积分球测试夹具
授权
摘要
本实用新型提供了一种积分球测试夹具，包括：夹具本体；用于放置待测试芯片的凹槽，凹槽位于夹具本体的上端面，且外形与待测试芯片匹配；用于对待测试芯片进行性能测试的多个测试探针，多个测试探针位于凹槽底部，且各测试探针的端面位于同一水平面；于凹槽底部设置的真空腔及连接真空腔的真空管；于夹具本体底部与多个测试探针连接电源线。测试时将芯片置于凹槽内，即能定位芯片的位置又方便取放；测试时芯片底部采用真空吸附，对芯片进行均匀吸附，相对于现有夹具来说，避免了双按钮操作不便的同时，避免了芯片测试过程中因二边侧受压导致报废的情况出现，大大提高了测试精度。
基本信息
专利标题 ：
积分球测试夹具
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN201922151865.9
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2019-12-05
授权号 ：
CN211785929U
授权日 ：
2020-10-27
发明人 ：
何玉建邵文良
申请人 ：
江西省晶能半导体有限公司
申请人地址 ：
江西省南昌市高新开发区艾溪湖北路699号
代理机构 ：
代理人 ：
优先权 ：
CN201922151865.9
主分类号 ：
G01R31/28
IPC分类号 ：
G01R31/28 G01R1/04 G01M11/02
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R31/28
•电路的测试，例如用信号故障寻测器
法律状态
2020-10-27 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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