本发明公开了一种用于半导体器件老化测试的机台，包括底座，底座上固定有转动座，转动座内转动安装有转盘，转盘上固定有螺纹杆，螺纹杆上设置有螺纹筒，螺纹筒上固定有台面，台面上固定有限位筒，限位筒内滑动套设有与底座固定的限位杆，台面上固定有置物座，置物座上放置有半导体本体。本发明通过对处理器匹配的面板进行设定控制，使物料平稳的上升下降，抬升高度通过传感器来控制，不需要人工操作，降低工人劳动强度，节约了时间与人工并极大地提高了生产效率，通过更换叉脚，可以兼容不同的物料，实现多种产品情况的通用性。