一种TO器件老化测试板
授权
摘要
本实用新型一种TO器件老化测试板，热沉通过若干个支点悬空地架设在承载板上，在热沉中部设有插槽，一感温热电偶插置在该插槽内；采用上述方案后，本实用新型热沉和芯片的温度基本上保持一致，感温热电偶插置在热沉内监测热沉的温度，这样可准确控制芯片的老化温度。
基本信息
专利标题 ：
一种TO器件老化测试板
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202122382121.5
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2021-09-29
授权号 ：
CN216485129U
授权日 ：
2022-05-10
发明人 ：
刘建良邱名武韦国辉
申请人 ：
厦门三优光电股份有限公司
申请人地址 ：
福建省厦门市火炬高新区创业园伟业楼N505室
代理机构 ：
厦门市天富勤知识产权代理事务所(普通合伙)
代理人 ：
顾克帅
优先权 ：
CN202122382121.5
主分类号 ：
G01R1/04
IPC分类号 ：
G01R1/04 G01R1/28
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R1/00
包括在G01R5/00至G01R13/00或G01R31/00组中的各类仪器或装置的零部件
G01R1/02
一般结构零部件
G01R1/04
外壳；支承构件；端子装置
法律状态
2022-05-10 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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