器件老化测试用分光系统

授权

摘要

本实用新型公开一种器件老化测试用分光系统，包括载板、若干个间隔安装于载板上表面的安装座和若干个连接于安装座上的PCB板，每个所述安装座上均间隔开有若干个上下贯通的第一通孔，所述载板上开有与第一通孔贯通的第二通孔，所述TO器件位于第二通孔的正下方，所述第一通孔与安装孔相交处安装有一半反半透镜，所述第一通孔的上端安装有一连接有光纤的光纤法兰；所述载板上表面的两端分别设置有一压块，此压块的底部安装于载板上，所述压块的上部用于与驱动机构连接，所述压块的中部间隔交错地开设有若干个条形槽。本实用新型可以同时实现对发光器件的多项测试，还可以避免力量过大而损伤器件，进一步保证对器件的测试精度和效率。

基本信息

专利标题：

器件老化测试用分光系统

专利标题（英）：

暂无

公开（公告）号：

暂无

申请号：

CN202022188912.X

公开（公告）日：

暂无

申请日：

2020-09-29

授权号：

CN213843442U

授权日：

2021-07-30

发明人：

张文刚徐鹏嵩郭孝明许鹏胡海洋黄建军

申请人：

苏州联讯仪器有限公司

申请人地址：

江苏省苏州市高新区湘江路1508号5幢

代理机构：

苏州创元专利商标事务所有限公司

代理人：

王健

优先权：

CN202022188912.X

主分类号：

G01R31/28

IPC分类号：

G01R31/28 G01R1/04