温度调节装置和老化测试系统
实质审查的生效
摘要
本发明公开了一种温度调节装置和老化测试系统。其中，温度调节装置包括温度调节组件，具有第一表面和与所述第一表面相对的第二表面；其中，在进行老化试验的低温试验时，对所述温度调节组件施加第一方向的电流，以对设置在所述第一表面上的电子器件进行加热；在进行老化试验的高温试验时，对所述温度调节组件施加第二方向的电流，以通过所述第一表面对所述电子器件进行散热；所述电子器件用于在老化试验中辅助被测产品进行老化测试；隔温罩，至少包围所述电子器件，用于减缓所述隔温罩内与所述隔温罩外的热量交换。
基本信息
专利标题 ：
温度调节装置和老化测试系统
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN114414984A
申请号 ：
CN202111623772.7
公开（公告）日 ：
2022-04-29
申请日 ：
2021-12-28
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
栾越罗文奇林鸿旸
申请人 ：
长江存储科技有限责任公司
申请人地址 ：
湖北省武汉市东湖新技术开发区未来三路88号
代理机构 ：
北京派特恩知识产权代理有限公司
代理人 ：
张雪
优先权 ：
CN202111623772.7
主分类号 ：
G01R31/28
IPC分类号 ：
G01R31/28 G05D23/22
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R31/28
•电路的测试，例如用信号故障寻测器
法律状态
2022-05-20 ：
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01R 31/28
申请日 : 20211228
申请日 : 20211228
2022-04-29 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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