高可靠性的LCM老化试验测试机
授权
摘要
本实用新型提供了一种高可靠性的LCM老化试验测试机，散热功能好，采用了机加工外壳，完美的配合了独有单面设计的测试机信号电路板和电源电路板，上盖、底盒与外置DC电路板、电源电路板与上盖之间铺设有导热棉，信号电路板与底盒之间铺设有导热棉。测试机信号电路板与合体上盖紧紧贴合，测试机电源电路板与下盖紧紧贴合，再在导热棉的作用下，有效的把电路板工作时候自身产生的热量传送到外壳上散热；密封性好：机加工外壳上下盖边框设计有5MM*5MM的凹槽，可以贴上高温密封硅胶条，扣合后密封性更有效；3、使用方便：采用手动卡扣代替螺丝紧固，用手轻轻一按就可以打开外壳，不用任何工具就可以打开外壳更换信号排线，生产效率大大提升。
基本信息
专利标题 ：
高可靠性的LCM老化试验测试机
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN201921488342.7
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2019-09-09
授权号 ：
CN211928041U
授权日 ：
2020-11-13
发明人 ：
杨荣华
申请人 ：
深圳思凯测试技术有限公司
申请人地址 ：
广东省深圳市宝安区石岩街道浪心社区宝源社区苏氏山水山月园厂房3号三层
代理机构 ：
北京汇捷知识产权代理事务所(普通合伙)
代理人 ：
张利
优先权 ：
CN201921488342.7
主分类号 ：
G01R31/00
IPC分类号 ：
G01R31/00 G01R1/04
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R31/00
电性能的测试装置；电故障的探测装置；以所进行的测试在其他位置未提供为特征的电测试装置；在制造过程中测试或测量半导体或固体器件入H01L21/66；线路传输系统的测试入H04B3/46）
法律状态
2020-11-13 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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