半导体分立器件测试的装置
授权
摘要
本发明涉及半导体分立器件测试的装置，其包括测试源、测试架、以及设置在测试架上的测试转换台；测试转换台上设置有用于测试作为转换器的分立器的工位，在工位上设置有用于压装转换器的弹簧片；在测试架上设置有电源模块、整流模块、一次滤波模块、稳压模块、二次滤波模块、计数模块、显码模块、驱动模块、触发模块、继电器模块、以及矩阵电路模块；电源模块依次通过整流模块、一次滤波模块、稳压模块、二次滤波模块、计数模块、显码模块、驱动模块、继电器模块、以及矩阵电路模块电连接；触发模块与计数模块电连接；在测试转换台设置有测试模块；本发明设计合理、结构紧凑且使用方便。
基本信息
专利标题 ：
半导体分立器件测试的装置
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN201922284642.X
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2019-12-18
授权号 ：
CN211505782U
授权日 ：
2020-09-15
发明人 ：
李莎王辉张宗勇
申请人 ：
青岛航天半导体研究所有限公司
申请人地址 ：
山东省青岛市市南区福州北路10号
代理机构 ：
山东重诺律师事务所
代理人 ：
贾巍超
优先权 ：
CN201922284642.X
主分类号 ：
G01R31/26
IPC分类号 ：
G01R31/26
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R31/26
•单个半导体器件的测试
法律状态
2020-09-15 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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