本实用新型是半导体分立器件检测分选装置，其结构是内部垒放有分立器件的落料道侧面设有若干个检测机构，落料道底部出口处侧面设落料气缸，落料气缸输出端与落料挡板连接，落料道下方设倾斜安装框，倾斜安装框顶面较高端边缘设有滑轨，滑轨上滑动连接有内侧带有送料空隙的送料滑块，沿滑轨较低一侧长度方向的倾斜安装框顶面上均匀设有若干个送料滑道，送料滑道一端侧面倾斜安装框上设放料框，放料框包括若干放置料管的放料单元，料管开口方向位于较高一端且对应放料单元上设有进料缺口，进料缺口与对应位置送料滑道相通。本实用新型的优点：实现了对半导体分立器件的高效检测和检测后的快速分选和分类存储，可有效区分优品和次品，提高生产效率。