本发明公开了一种半导体分立器件测试装置，包括底板，所述底板顶面固定连接有防护壳，所述防护壳顶面固定连接有盒体，所述盒体呈圆形设置，所述盒体内腔设置有圆板，所述圆板侧壁上开设有若干个弧形槽，所述弧形槽内均设置有二极管，所述盒体侧壁设置有往复机构，所述往复机构靠近圆板一侧设置有检测机构，所述圆板顶面固定连接有若干个磁块，所述圆板底面固定连接有竖轴，所述竖轴底端贯穿盒体并固定连接有棘轮盘，所述竖轴与盒体活动连接，所述竖轴侧壁上固定连接有第一槽轮，本发明通过盒体、圆板和进料机构之间的相互配合，可对二极管进行间歇进料，避免在进料时发生堵塞等情况，可有效的提高其使用便捷度。