塑封半导体分立器件解剖分析用磨具
授权
摘要

本实用新型公开了塑封半导体分立器件解剖分析用磨具,包括中空底座,所述中空底座的顶部开设有与其连通的槽孔,所述中空底座的顶部设置有位于槽孔一侧的收集箱,所述中空底座的两侧内壁之间转动连接有第二螺纹杆,所述第二螺纹杆上螺纹套装有螺纹块,所述螺纹块位于槽孔内,所述中空底座的一外侧壁上固定安装有伺服电机,所述第二螺纹杆的一端贯穿中空底座的外侧壁并与伺服电机的输出轴固定连接。本实用新型不仅能够对不同尺寸的塑封器件压紧固定,同时能够对压紧固定的研磨厚度进行调节,从而能够满足不同尺寸塑封器件的研磨要求,还能对研磨时产生的废料进行收集,便于进行后续进行清理,保护了加工环境,使用方便。

基本信息
专利标题 :
塑封半导体分立器件解剖分析用磨具
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN202123261619.2
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2021-12-23
授权号 :
CN216542674U
授权日 :
2022-05-17
发明人 :
张克琦徐明月王杰
申请人 :
济南半一电子有限公司
申请人地址 :
山东省济南市高新区春晖路2966号济南高新区战略性新兴产业基地15号楼101
代理机构 :
代理人 :
优先权 :
CN202123261619.2
主分类号 :
B24B37/11
IPC分类号 :
B24B37/11  B24B37/27  B24B37/34  
IPC结构图谱
B
B部——作业;运输
B24
磨削;抛光
B24B
用于磨削或抛光的机床、装置或工艺(用电蚀入B23H;磨料或有关喷射入B24C;电解浸蚀或电解抛光入C25F3/00;磨具磨损表面的修理或调节;磨削,抛光剂或研磨剂的进给
B24B37/00
研磨机床或装置;附件
B24B37/11
研具
法律状态
2022-05-17 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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