一种便携式半导体分立器件测试装置
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摘要

本实用新型公开了一种便携式半导体分立器件测试装置,包括测试仪,所述测试仪顶部的两侧均开设有插槽,所述插槽内壁的外侧开设有插孔,所述插槽的内壁设置有壳体,所述壳体的顶部固定连接有提手,所述壳体内壁的前侧固定连接有轴承,所述轴承的内环固定连接有连接柱,所述连接柱的背面固定连接有齿轮。本实用新型通过设置测试仪、插槽、插孔、壳体、提手、轴承、连接柱、齿轮、齿板、滑套、滑杆、移动板和插柱,解决了现有的测试装置其体积较大,不便于工人移动携带,在携带时,需要保护测试装置,费时费力的问题,该便携式半导体分立器件测试装置,具备方便携带的优点,提高了测试装置的实用性,便于使用者的使用。

基本信息
专利标题 :
一种便携式半导体分立器件测试装置
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN201921929915.5
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2019-11-11
授权号 :
CN211014352U
授权日 :
2020-07-14
发明人 :
薛芳峰吴方军乔德定严建华喻建华吴恒华
申请人 :
德兴市意发功率半导体有限公司
申请人地址 :
江西省上饶市德兴市高新技术产业园
代理机构 :
南昌卓尔精诚专利代理事务所(普通合伙)
代理人 :
陈志辉
优先权 :
CN201921929915.5
主分类号 :
G01R1/02
IPC分类号 :
G01R1/02  G01R31/26  
相关图片
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01R
测量电变量;测量磁变量
G01R1/00
包括在G01R5/00至G01R13/00或G01R31/00组中的各类仪器或装置的零部件
G01R1/02
一般结构零部件
法律状态
2020-07-14 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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