用于测试半导体器件的方法和系统
发明专利申请公布后的视为撤回
摘要
一种半导体器件测试器包括：参数测量单元(PMU)级，用于产生DC测试信号；以及管脚电子器件(PE)级，用于产生用于测试半导体器件的AC测试信号。驱动电路能够将一种版本的DC测试信号和一种版本的AC测试信号提供到该半导体器件。
基本信息
专利标题 ：
用于测试半导体器件的方法和系统
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN101084445A
申请号 ：
CN200580043925.3
公开（公告）日 ：
2007-12-05
申请日 ：
2005-12-16
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
欧内斯特·P·沃克罗纳德·A·萨特斯奇夫
申请人 ：
泰拉丁公司
申请人地址 ：
美国马萨诸塞州
代理机构 ：
中原信达知识产权代理有限责任公司
代理人 ：
谷惠敏
优先权 ：
CN200580043925.3
主分类号 ：
G01R31/26
IPC分类号 ：
G01R31/26
相关图片
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R31/26
•单个半导体器件的测试
法律状态
2010-03-24 ：
发明专利申请公布后的视为撤回
2008-01-23 ：
实质审查的生效
2007-12-05 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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1、
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