一种用于半导体器件的快速测试系统
授权
摘要
本实用新型公开了一种用于半导体器件的快速测试系统，包括：放置平台，用于放置待测半导体器件；半导体器件测试仪，用于对待测半导体器件进行测试；控制电路，用于发出开关选通信号；模拟开关电路，与待测半导体器件、控制电路以及半导体器件测试仪连接，用于获取开关选通信号并闭合，以使待测半导体器件与半导体器件测试仪连通。本实用新型将多个待测半导体器件放置在放置平台上，待测的半导体器件与模拟开关电路连接，模拟开关电路与半导体器件测试仪连接，通过开关选通信号使待测半导体器件与半导体器件测试仪连接，选通信号能实现多个半导体器件之间的快速切换，实现了对多个半导体器件的测试，从而提高了半导体器件测试的效率。
基本信息
专利标题 ：
一种用于半导体器件的快速测试系统
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN201922490459.5
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2019-12-30
授权号 ：
CN213122183U
授权日 ：
2021-05-04
发明人 ：
陈心满钟智坚蒋治国
申请人 ：
华南师范大学
申请人地址 ：
广东省广州市天河区中山大道西55号半导体科学技术研究院
代理机构 ：
广州新诺专利商标事务所有限公司
代理人 ：
张芬
优先权 ：
CN201922490459.5
主分类号 ：
G01R31/26
IPC分类号 ：
G01R31/26
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R31/26
•单个半导体器件的测试
法律状态
2021-05-04 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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