一种用于测试半导体器件的处理机的测试托盘，其能够降低更换载座模块所需花费的成本和时间，并可获得提高的可使用性。测试托盘包括：框架；槽体，安装到框架上同时彼此均匀地隔开，每一个槽体均包括座体，在该座体上容纳有半导体器件；卡锁，安装到框架上，以对于各个座体成对设置，从而使得每一个卡锁对中的卡锁分别在相关的一个槽体的相对侧彼此面对，每一个卡锁可在第一位置和第二位置之间移动，其中，在第一位置卡锁固定容纳于相关槽体的座体中的半导体器件，而在第二位置卡锁释放半导体器件的固定状态；及卡锁操作件，其每一个均安装到框架上，并适合于在第一位置和第二位置之间移动相关的一个卡锁，每一个卡锁操作件与相关的卡锁相分离。