半导体器件特性测试装置

专利权的终止未缴年费专利权终止

摘要

一种半导体器件特性测试装置，包括扫描信号产生电路，阶梯信号产生电路、电流、电压测量电路和特性显示装置等，特别具有传输特性测试运算放大器，寄生振荡抑制电路以及设计新颖独特的功能转换控制电路。本装置可直接图示包括正、反向传输特性在内的半导体三端或双口器件(或网络)的六组标准特性和各种类型的半导体二端器件的i-v特性，能有效地抑制负阻器件特性测试时出现的寄生振荡，结构紧凑，功能齐全、工作可靠、操作简便，是一种新型的半导体器件特性测试仪器。

基本信息

专利标题：

半导体器件特性测试装置

专利标题（英）：

暂无

公开（公告）号：

CN1063558A

申请号：

CN91100540.4

公开（公告）日：

1992-08-12

申请日：

1991-01-26

授权号：

CN1032983C

授权日：

1996-10-09

发明人：

钟国群

申请人：

中国科学院广州电子技术研究所

申请人地址：

510070广东省广州市先烈中路100号

代理机构：

中国科学院广州专利事务所

代理人：

余炳和

优先权：

CN91100540.4

主分类号：

G01R31/26

IPC分类号：

G01R31/26