本实用新型涉及一种用于半导体器件的测试座，包括测试座主体，在所述测试座主体内开有容置腔，容置腔内放置有测试组件；测试座主体的上方设有定位盖板；定位盖板上开有产品检测区域；测试座主体下方依次设有PCB板、定位板和托块；定位盖板、测试组件、测试座主体、PCB板、定位板和托块经由紧固件上下紧固相连，本实用新型增强了产品的限位定位关系，测试片与芯片管脚的接触性以及测试片与PCB的接触的定位精度，提高可靠性；C字形测试件增强了与产品的接触保护产品被划伤的风险，增强测试片的寿命和测试性能，并且增加吹气装置保持测试区域的清洁及恒温，使测试稳定，同时加装叠料传感器实时监控在测试时出现的卡料现象，保持设备正常运转提高生产效率。